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        有源近場探頭套件

        有源近場探頭套件

        產品型號: HZ530

        所屬分類:電磁兼容EMI測試

        產品時間:2017-07-05

        簡要描述:HZ530 探頭套件由用于 EMI 診斷的三個有源寬帶探頭組成

        詳細說明:

        HAMEG 惠美 HZ530 有源近場探頭套件 Near-Field Probe Set

        HZ 530 HZ-530

        HZ530 探頭套件由用于 EMI 診斷的三個有源寬帶探頭組成。這些探頭可與輸入阻抗為50Ω的HAMEG頻譜分析儀相連。探頭可通過頻率分析儀或電池來供電。這些探頭具有細長的外形,因此甚至在空間狹窄的測試環境中也可接觸到測試對象。
        磁場探頭可提供一個與頻譜分析儀的磁場強度成正比的信號。這樣就可以很高的精度找到干擾源。
        高阻抗探頭可用于確定觸點、線路和印刷電路板上的干擾電平。
        電場探頭在這三種探頭中靈敏度zui高。它可用于評估被測設備中的總體屏蔽和濾波效果。

        技術指標(23°C±2°C時)

        頻率范圍:

        100kHz至1GHz

        電源電壓:

        6VDC,由頻譜分析儀或電池提供(4節Mignon/AA電池,不提供)

        電源電流:

        大約10-24mA DC

        探頭尺寸:

        40×90×195mm

        機箱:

        塑料,內部電屏蔽

        套件包括:

        1個電場探頭

        1個磁場探頭

        1個高阻抗探頭

        1條BNC電纜(1.5m)

        1條電源電纜

        操作手冊

        堅固的攜帶箱

         



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